ИНДЕКСЫ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ

Три целых числа, определяющих расположение в пр-ве граней и ат. плоскостей кристалла (индексы Миллера), а также направлений в кристалле и его рёбер (индексы Вейса) относительно кристаллографич. осей.

Прямая ОА с индексами Вейса (2,3,3) и плоскость Р с индексами Миллера (4,3,6); Ох, Оу, Оz — кристаллографич. оси; OA^P.

Прямая и параллельное ей ребро, определяемые индексами Вейса p1, р2, p3 (обозначаются (p1, p2, p3) или (h, k, l)), проходят из начала координат О в точку А, определяемую вектором р1а+р2b+р3с, где a, b, с — периоды решётки (рис.).

Плоскость P, отсекающая на осях отрезки р1а, р2b, р3с, имеет индексы Миллера h, k, l, определяемые отношением целых величин, обратных индексам p1, р2, р3, т. е. h : k : l=1/p1:1/p2:1/p3, к-рые обозначаются (h, k, I). Равенство нулю одного или двух индексов Миллера означает, что плоскости параллельны одной из кристаллографич. осей. Отрицат. значения индексов Миллера соответствуют плоскостям, пересекающим оси координат в отрицат. направлениях. Совокупность симметричных граней одной простой формы кристалла обозначается (h, k, l). При дифракции рентгеновских лучей индексы h, k, l отражающей плоскости характеризуют одновременно положение дифракц. максимума (рефлекса) в обратной решётке.