БРЭГГА — ВУЛЬФА УСЛОВИЕ

Определяет возможные направления возникновения максимумов интенсивности упруго рассеянного на кристалле рентг. излучения при дифракции рентгеновских лучей. Установлено в 1913 независимо друг от друга англ. физиком У. Л. Брэггом (W. L. Bragg) и рус. учёным Г. В. Вульфом. Если кристалл рассматривать как совокупность параллельных ат. плоскостей, отстоящих друг от друга на расстоянии d (рис.), то дифракцию излучения можно представить как отражение его от системы таких плоскостей.

БРЭГГА — ВУЛЬФА УСЛОВИЕ

Максимумы интенсивности (дифракционные максимумы) возникают при этом только в тех направлениях, в к-рых все отражённые ат. плоскостями волны находятся в одной фазе, т. е. под такими углами 2q к направлению первичного луча, для к-рых выполняется Б.— В. у.: разность хода между двумя лучами, отражёнными от соседних плоскостей, равная 2dsinq, должна быть кратной целому числу длин волн l:

2dsinq=ml

(т — целое положит. число, наз. порядком отражения). Б.— В. у. может быть получено из более общих условий дифракции излучения на трёхмерной решётке.

Б.—В. у. позволяет определить межплоскостные расстояния d в кристалле, поскольку l обычно известна, а угол q (наз. брэгговским углом) можно измерить экспериментально. Оно применяется в рентгеновском структурном анализе, рентгенографии материалов, рентгеновской топографии. Б.— В. у. остаётся справедливым при дифракции g-излучения, эл-нов и нейтронов (см. ДИФРАКЦИЯ МИКРОЧАСТИЦ), при дифракции в периодич. структурах эл.-магн. излучения радио- и оптического диапазонов, а также звука.

Источник: Физический энциклопедический словарь на Gufo.me


Значения в других словарях

  1. Брэгга — Вульфа условие — Условие, определяющее положение интерференционных максимумов рентгеновских лучей, рассеянных кристаллом без изменения длины волны. Б.— В. у. установлено в 1913 независимо друг от друга английским учёным У. Л. Брэггом и русским учёным Г. Большая советская энциклопедия
  2. БРЭГГА — ВУЛЬФА УСЛОВИЕ — БРЭГГА — ВУЛЬФА УСЛОВИЕ дифракции рентгеновских лучей в кристалле: 2dsin ?? = m? — где d — расстояние между отражающими кристаллографическими плоскостями, ? — угол между падающим лучом и отражающей плоскостью, ?... Большой энциклопедический словарь