фотоэлектронная спектроскопия

ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ (ФЭС)

метод изучения электронного строения вещества, основанный на явлении фотоэффекта с использованием УФ излучения. При поглощении фотона атомом среды испускается электрон (фотоэлектрон), причем энергия фотона hn (n — частота излучения, h — постоянная Планка) за вычетом энергии связи Е_СВ электрона передается фотоэлектрону и м. б. измерена как его кинетич. энергия E_кин:

E_св = hn — E_кин.

Ф. с. и рентгеноэлектронную спектроскопию иногда объединяют общим названием "электронная спектроскопия". Разделение между двумя методами условно: при эВ говорят о Ф. с., при больших hn — о рентгеноэлектронной спектроскопии.

В Ф. с. используют монохроматич. излучение He(I) или Не(П), энергия фотона соотв. 21,2 и 40,8 эВ; реже применяют резонансные линии излучения др. инертных газов и монохро-матизир. синхротронное излучение. Энергетич. спектры фотоэлектронов измеряют в фотоэлектронных спектрометрах, осн. элементы которых — источник излучения, электростатич. анализатор энергии электронов E_кин и детектор электронов для измерения интенсивности полос фотоэлектронного спектра, которая пропорциональна содержанию соответствующего элемента в образце. Разрешающая способность (ширина полос) составляет от 10 до 80 мэВ, точность определения E_кин достигает 10–25 мэВ.

Ф. с. позволяет изучать электронные и колебат. уровни энергии молекул, потенциалы ионизации (как вертикальные, так и адиабатические), поверхностные эффекты и др. характеристики. Колебат. структура фотоэлектронных спектров хорошо проявляется у сравнительно простых двухатомных молекул, которые м. б. представлены моделью двух взаимодействующих точечных масс m₁ и m₂ [приведенная масса M= m₁m₂/(m₁ + m₂)] с равновесным расстоянием между ними r (длина связи) и гармонич. силовой постоянной К (см. колебательные спектры). Согласно классич. механике, частота колебаний w_и атомных ядер ионизированной молекулы, рассчитываемая по данным ИК спектров, связана с M и К соотношением:

Если фотоэлектрон удаляется со связывающей мол. орбитали, величина К меньше, а если с разрыхляющей орбитали — больше, чем значение, которое входит в аналогичное соотношение для неионизир. молекулы, следовательно, Ф. с. позволяет установить характер мол. орбиталей, если сравнить фотоэлектронную частоту с частотой колебаний для неионизированной (свободной) молекулы.

Значения и связаны с адиабатич. (I_а) и вертикальным (I_b) потенциалами ионизации соотношением:

Разница величин (I_b — I_a) м. б. использована в случае несложных 3- или 4-атомных молекул для расчета изменений межатомного расстояния и валентного угла , обусловленных фотоионизацией:

( и r указаны в , M — в атомных единицах массы, — в 1000 см⁻¹).

Измерения энергий связи валентных электронов молекул в газовой фазе позволяет проверить точность теоретич. расчетов, установить закономерности электронного строения молекул в изоэлектронных, изовалентных и т. п. рядах, выявить влияние заместителей, установить их донорно-акцепторные свойства. Фотоэлектронные спектры известны примерно для 10000 своб. молекул.

Для твердых тел Ф. с. позволяет определить положение уровня Ферми и распределение электронной плотности. При изучении адсорбции м. б. установлены: характер присоединения молекулы к поверхности (физ. адсорбция или хемосорбция), природа взаимод. молекулы с поверхностью, роль в этом взаимод. разл. мол. орбиталей. Важная характеристика — угловая зависимость фотоэлектронного спектра, т. е. изменение интенсивности полосы при изменении угла между направлением фотонов и нормалью к поверхности, а также угла между нормалью к поверхности и направлением вылета фотоэлектронов. Установлено, напр., что молекула CO присоединяется по граням (111) кристаллов Pt и Pd таким образом, что ось CO располагается вертикально, а при адсорбции по грани Pt (110) ось CO отклонена от нормали к поверхности на угол 26°.

Относит. интенсивности полос фотоэлектронных спектров позволяют качественно судить о составе атомных орбиталей, линейная комбинация которых образует данную мол. орбиталь (см. ЛКАО-приближение). Интенсивность полосы I_мо, связанной с некоторой мол. орбиталью, определяется интенсивностя-ми полос , связанных с атомными орбиталями и заселенностями этих орбиталей (по Малликену):

Интенсивностизависят от энергии фотона hn, поэтому по изменению I_мо можно качественно судить об участии разл.

Al в образовании данной мол. орбитали. Например, для 3d-орби-тали Ni интенсивность полосы возрастает более чем в 10 раз при переходе от излучения He(I) к излучению Не(П), поэтому рост интенсивности полосы для изучаемого электронного уровня молекулы указывает на значит, вклад 3d-op-биталей в волновую функцию данного состояния.

^{Лит.: Нефедов В.И., В о в н а В.И., Электронная структура химических соединений, М., 1987; их же, Электронная структура органических и элементоорганических соединений, М., 1989; Вовна В.И., Электронная структура органических соединений по данным фотоэлектронной спектроскопии, М., 1991.}

_{В. И. Нефедов}