метод рентгеновского структурного анализаполикристаллических материалов. В рентгеновских камерах или рентгеновскихдифрактометрах осуществляется дифракция рентгеновского излучения наисследуемом образце. Анализируя дифракционную картину, устанавливаютатомную структуру образца. Предложен П. Дебаем и немецким физиком П.Шеррером в 1916.





Ссылка на выделенный текст